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奧林巴斯齊頭外殼雙晶探頭DHC系列
詳細(xì)信息品牌:奧林巴斯 型號(hào):DHC系列 加工定制:否 適用對(duì)象:探傷儀探頭 型號(hào):DHC系列 加工定制:否
奧林巴斯雙晶探頭
兩個(gè)互成角度放置的晶片可在被測(cè)材料中創(chuàng)建V形聲程。 這種“假性聚焦”增強(qiáng)了焦點(diǎn)區(qū)域的分辨率。 雙晶超聲探頭的兩個(gè)晶片安裝在同一個(gè)外殼中,晶片之間有隔音屏障將晶片分隔開。 一個(gè)晶片發(fā)射縱波,另一個(gè)晶片作為接收器接收回波。優(yōu)勢(shì)特性:
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改進(jìn)了近表面分辨率
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消除了高溫應(yīng)用中加倍延遲塊的需要
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在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好
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降低了粗顆粒材料或散射材料中的直接背散射噪聲
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結(jié)合了低頻單晶超聲探頭的穿透能力與高頻單晶超聲探頭的近表面分辨率能力
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可緊密貼附于曲面工件上
應(yīng)用:
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剩余壁厚測(cè)量
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腐蝕/侵蝕監(jiān)控
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焊縫覆蓋和堆焊層的粘合/脫粘檢測(cè)
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探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷
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探測(cè)螺栓或其他圓柱形部件中的裂紋
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等于或小于5.0 MHz的超聲探頭可承受的*高溫度為425°C; 7.5 MHz和10 MHz的超聲探頭可承受的*高溫度為175°C。 對(duì)于表面溫度從90°C到425°C的工件,建議使用的工作周期為*多接觸10秒,然后至少在空氣中冷卻1分鐘(不適用于微型端部雙晶超聲探頭)
奧林巴斯齊頭外殼雙晶探頭DHC系列
- 金屬防磨環(huán)延長(zhǎng)了超聲探頭的壽命
- 在超聲探頭面需要重做表面處理時(shí),提供磨損指示參考信息
- 滾花,303不銹鋼外殼
- 可更換電纜的設(shè)計(jì)(可提供帶應(yīng)力消除裝置的特殊雙電纜)
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留 言
- 聯(lián)系人:牟淑蓉
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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