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美國GE貝克休斯探頭MB2F
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：MB2F 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進口：是 產地：美國 美國GE貝克休斯探頭MB2F
應用
•結構規則簡單的大型工件檢測
•鍛件、坯料檢測
•板材、棒材、方型材
•容器、機器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測
功能特和優勢
•歐式型號具有可更換的軟保護膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標準探頭連接器安裝在側面，頂部接口可選
•美式型號具有可更換的軟保護膜：
– 保護膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護膜可無限期延長探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進行檢測。
– BNC 連接器，側面或頂部安裝
美國GE常規探頭 這些常規探頭都能用于各種標準超聲探傷儀。這些探頭性能優越，可靠性高，能滿足非常嚴格的應用要求，精度高，我們探頭的技術參數都能控制在允許的誤差范圍內。我們的每個探頭都經過嚴格的質量控制，每個探頭都有詳細的符合DIN 25450標準的技術參數.
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留 言
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