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美國(guó)GE陶瓷表面直探頭K1G
詳細(xì)信息品牌:美國(guó)GE 型號(hào):K1G 加工定制:否 用途:探傷儀測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口:是 產(chǎn)地:美國(guó)
美國(guó)GE陶瓷面直探頭 通常:對(duì)所有類型零件體內(nèi)或沿表面分布的缺陷的探測(cè)和評(píng)估。可以用于有保護(hù)膜的探頭不適合的有鋒利邊緣的物體的測(cè)試。
特性:非常好的穿透性 、高的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率、 高的抗磨損性
注釋:
粗體=首選探頭,帶簡(jiǎn)短注釋說(shuō)明
O=提供探頭數(shù)據(jù)表
O=提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋,見第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。類型
[訂購(gòu)號(hào)碼]D [mm] [mm] f* [MHz] AB* N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號(hào)備注 草圖 特性帶寬:70% K1G
K2G
K4G24
24
241
2
415-2300
10-4000
7-800023
45
887
3.5
1.81-24
2-24
4-24類型5 特性帶寬:70% K1N
K2N
K4N
K5N
K6N10
10
10
10
101
2
4
5
615-420
7-2500
5-5000
4-6300
3-76004
8
16
20
238
3.5
1.8
1.5
1.21-10
2-10
4-10
5-10
6-10類型6 性帶寬:60% K2K
K5K
K10K
K15K5
5
5
52
5
10
157-300
5-2100
2-3000
2-38002.0
5.0
10
152.5
1.5
1
0.72-5
5-5
10-5
15-5類型7
用于無(wú)衰減材料時(shí)規(guī)定的操作量程上限。實(shí)際上,如果頻率增加,則上限急劇降低。
提供其它頻率、單元直徑、帶寬或設(shè)計(jì)的探頭。
附件描述 類型 備注 探頭電纜(2米)
類型
耦合劑MPKL2
MPKM2
ZG-F用于K..G, K..N
用于K..K
見36頁(yè) -
留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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